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X-4显微数显熔点仪
产品介绍
应用范围：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片
-
盖玻片法（热台法）测定。
性能指标
通用技术参数
熔点测量范围：室温至
320
℃
测量重复性：
±1
℃（在
<200
℃时）
±2
℃（在
200
～
300
℃时）
光学放大倍数：目镜
10X
；物境
4X
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