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上海精科UV765CRT紫外可见分光光度计
产品介绍
上海精科UV765CRT型紫外可见分光光度计可以满足日常分析到科学研究等广泛的应用需求。上海精科UV765CRT型紫外可见分光光度计采用先进合理的光路系统、低噪声的电路设计,具有出色的可靠性和稳定性。

 

上海精科UV765CRT型紫外可见分光光度计的特点:

比例双光束,保证极好的稳定性。

超低的杂散光,优异的波长精确度。

高清晰度大屏幕LCD显示,流畅的人机对话操作。

长寿命石英涂膜光学部件。

常规测量功能:光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描。

显示和储存各种数据和图谱,支持专用打印机。

自动校正功能,确保每次测量数据准确。

自动寻找灯源最佳位置,独立灯室,灯源更换简单方便。

大样品室,自动8联样品架。

自诊断功能,随时检查仪器状态和性能。

通用技术参数

波长范围:190nm1100nm

波长最大允许误差:±0.5nm

波长重复性:0.2nm

光谱带宽:2nm

杂散光:0.05%T(220处以Nal测定,360处以NaNO2测定)

透射比测量范围:0.0%T200.0% T

吸光度测量范围-0.301A3.00A

透射比最大允许误±0.3%T

漂移:0.001A/h

透射比重复性:0.15%T

基线平直度:±0.002A

噪声:100%噪声0.15%T  0%噪声0.10%T

扫描速度;快、中、慢

杂散光:0.15%(T)220nmNaI测定)(在360nm处,以NaNO2测定)

透射比重复性:0.2%T

噪声:100%噪声0.5%T) 0%噪声0.2%(T)

稳定性:0.004A/30min

电源:AC220V±22V  50Hz±1Hz

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